品質・技術
高品質な素材。信頼できるLEDディスプレイ。
すべての原材料は生産前に検査を実施。各製品は出荷前に社内ラボで試験を行い、お客様の市場へお届けします。

受入検査
3段階の受入材料検査工程
高精度機器を備えた標準化検査エリアで、すべての原材料の寸法、外観、性能を検証します。
01
高精度光学測定
全自動光学検査により、寸法データを高精度に取得します。
02
精密な寸法検証
ノギスとハイトゲージで受入部品の重要寸法を全数確認し、厳しい公差を維持します。
03
外観・構造評価
表面品質、構造の健全性、組み付け状態を目視と測定機器で確認し、不良を発生源で食い止めます。
専門的な製品試験
製品の信頼性を総合的に検証します。
業界水準の試験設備と標準化された試験槽により、環境耐性、機械性能、電気安全性を検証します。
01
環境信頼性
振動試験機と塩水噴霧試験機により、長距離輸送や屋外設置に耐える構造安定性と耐食性を検証します。
02
気候・熱劣化試験
温湿度試験槽、UV耐候性試験装置、熱衝撃試験装置を用いて、さまざまな気候条件下での過酷な稼働サイクルを再現します。
03
精密性能評価
引張・圧縮強度、PCBA、電気試験により、機械的堅牢性、電気安全性、機能安定性を定量評価します。
業界をリードする製造技術
HOB、COB、MIPの製造技術
反射を抑えながら保護性能を強化
HOB封止では、LEDチップの表面に保護層を形成し、防塵・防湿性と耐衝撃性を高めます。
マットな表面が映り込みを抑え、周囲の照明環境下でも均一な映像を実現します。
- 表面保護
- 反射を低減
- 均一な外観

ファインピッチディスプレイ向けに最適化したチップ・オン・ボード(COB)実装
COBではLEDチップをPCBに直接実装し、封止して一体化した堅牢な表面を形成します。この構造により、画面を保護しながら画素ピッチを狭めることができます。
- ファインピッチディスプレイの選択肢
- 一体型表面封止
- 製品シリーズごとのカスタム構成

高性能ファインピッチディスプレイ向けのMicro LED in Package(MIP)
MIPでは、小型LEDチップを個別パッケージにしてからPCBに実装します。部品単位での試験とビニングにより、パネル性能のばらつきを抑えます。
- 個別LEDパッケージ構造
- 部品単位の試験とビニング
- 画素ピッチは製品シリーズにより異なります

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